Институт в фотографиях

Кратко о ЦКП «Спектроскопия и оптика»

Центр коллективного пользования "Высокоразрешающая спектроскопия газов и конденсированных сред" при ИАиЭ СО РАН функционирует с 2002 г. За это время в его работе участвовали десятки научных групп из многих институтов Сибири, центральных областей России и зарубежных стран. Результаты, полученные с использованием оборудования ЦКП, нашли отражение более чем в 500 публикациях и доложены на десятках научных форумов.

Благодаря поддержке приборной комиссии СО РАН ЦКП за десятилетие пополнился новым уникальным оборудованием, что позволило на мировом уровне вести научные и прикладные исследования по приоритетным направлениям оптики и нанофотоники, включая фундаментальные основы лазерных и оптических технологий.

Большая часть работ, выполняемых в ЦКП, связана с изучением свойств новых (в том числе наноструктурированных) материалов, фотонных кристаллов, сенсоров и систем диагностики (в т. ч. на основе волоконной оптики). Исследования в этих областях открывают новые возможности для создания суперпризм, волноводов, оптических фильтров, микрорезонаторов, метаматериалов и т. д. Появляются новые перспективы в управлении оптическим излучением и его свойствами, в создании принципиально новых схем волоконных лазеров.

Все работы в ЦКП «Спектроскопия и оптика» курируются специалистами мирового уровня. Регулярно проводятся совместные семинары с участием сотрудников институтов СО РАН.

В 2012–2013 гг. ИАиЭ СО РАН как один из учредителей ЦКП выделил, отремонтировал и запустил в эксплуатацию помещения, специально предназначенные для компактного размещения оборудования ЦКП. Общая площадь помещений – 200 кв. м. Они расположены в пристройке к Институту, показанной на фотографии.

Расположение ЦКП

На двух этажах части здания, размещено недавно приобретённое для ЦКП оборудование. На первом этаже собраны технологические напылительные установки, стенд с фемтосекундным лазером. Там же на площади 35 кв. м. размещены микроскопы, профилометры и технологическое оборудование сектора микро- и наноструктурирования НГУ.

Оборудование сектора микроструктурирования и наноструктурирования НГУ

Оборудование сектора микроструктурирования и наноструктурирования НГУ

Первый этаж оснащён приточной вентиляцией с подогревом воздуха, очистной циркуляцией, вытяжной вентиляцией, локальной системой кондиционирования, централизованной системой охлаждения технологических установок.

Напылительные установки  Напылительные установки

Напылительные установки

На втором этаже ЦКП оборудованы помещения для аналитического оборудования нескольких физических лабораторий Института и НГУ.   
Во вновь оборудованных помещениях расположены:

 

Рамановский Фурье–спектрометр

Рамановский Фурье-спектрометр

Технические характеристики спектрометра:

  • длина волны возбуждения 1064 нм;
  • диапазон измеряемых частот 50–3600 см-1;
  • возможность измерения спектров КР в 90° и 180° геометриях;
  • наличие двух портов для установки двух лазеров возбуждения;
  • возможность регулировки положения исследуемого образца;
  • высокая стабильность при сканировании;
  • надёжность в эксплуатации.

 

 

Спектрофлюориметр Cary Eclipse

Спектрофлюориметр Cary Eclipse

Прибор позволяет измерять спектры флюоресценции и возбуждения образцов различного типа (жидкости, твёрдые тела, порошки), обладает высоким спектральным разрешением до 1,5 нм (воспроизводимость 0,2 нм), широким спектральным диапазоном 200–900 нм, временным разрешением 1 мкс. Прибор имеет гибкие возможности настроек и расширения возможностей (установку дополнительного оборудования: криостат, термостабилизация и т. д.).

 

 

Электронный микроскоп HITACHI TM-3000 с установками напыления золота и углерода

Электронный микроскоп HITACHI TM-3000

Настольный сканирующий электронный микроскоп ТМ-3000 чрезвычайно прост в управлении и имеет очень компактные размеры. Режим низкого вакуума позволяет исследовать непроводящие образцы без предварительного напыления проводящего слоя. Прибор имеет функции автоматической настройки фокуса и контраста, позволяющие начать работу сразу же после включения прибора. Прибор обладает большим отсеком для образцов (диаметр до 70 мм, высота до 50 мм).

Микроскоп ТМ-3000 позволяет разрешить проблему неразрушающего контроля структуры наноматериалов для оптических химических сенсоров, дифракционных оптических элементов, качества зондов для AFM-NSOM, анализа результатов лазерной микрообработки материалов, новых элементов микроэлектроники, микроэлектромеханики на основе тонкопленочных сегнетоэлектрических структур, элементной базы устройств вычислительной техники.