№ 3 1990 (МАЙ - ИЮНЬ)

СОДЕРЖАНИЕ НОМЕРА

Автор / Название статьиномер страницы

ОПТИЧЕСКИЕ ИНФОРМАЦИОННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ

 

Донцова В. В., Ленкова Г. А., Чурин Е. Г. Хроматические аберрации дифракционного микрообъектива при многомодовом режиме полупроводникового лазера

3

Домбровский В. А., Домбровский С. А., Пен Е. Ф., Потапов А. Н., Пустовая 3. Л. Стыковка полупроводникового лазера видимого диапазона с одномодовым волоконным   световодом

9

Мокрош И.  Угломерный интерферометр

15

Козик В. И., Михляев С. В. Оптическая система для параллельной обработки данных в голографическом ЗУ

17
Купко А. Д. Вопросы измерений лазерно-доплеровскими анемометрами в высокоскоростных  турбулентных потоках24

АНАЛИЗ ИЗОБРАЖЕНИЙ И ПРОЦЕССОВ

 

Гуров И. П., Павлова А. Б. Определение положения отражающей поверхности второго порядка методом машинной обработки интерференционной картины

30

Савич А. В., Фомин Я. А. Оптимизация системы многоальтернативного распознавания нормальных совокупностей

36

Полянский П. В. О согласованной фильтрации с использованием отражательной голограммы

46

Тихонов Д. В., Экало А. В. Инвариантная к геометрическим искажениям идентификация  элементов  изображений  точечной  динамической  сцены

51

Бокштейн И. М. Адаптивные варианты метода преобразования компонент с интерполяцией по отсчетам

57
Бакалов В. П. Уравнения оптимальной оценки пространственно-ограниченных многомерных сигналов при совместном действии мультипликативных и аддитивных помех65
Селиванова М. П., Тихонов Э. П. Сравнительный анализ и выбор оптимального алгоритма радиоизотопного измерения плотности 69
Бедров Я. А. Об оценивании периодических процессов при заданном интервале возможных значений периода73

ЧИСЛЕННОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ ПРОЦЕССОВ В ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРАХ

 
Кудряшов Н. А., Кучеренко С. С., Сыцько Ю. И. Применение метода прямых для решения задач теории полупроводниковых приборов80

КРАТКИЕ СООБЩЕНИЯ

 

Кузьмичев А. А., Нечепуренко Ю. В., Соколов В. Г. Структурометрические характеристики изображений в фотографических слоях на основе пленок диоксида титана

87

Бакут П. А., Кузнецов М. В., Ряхин А. Д. Восстановление формы поверхности по ее полутоновым   изображениям

89
Аннин С. Н., Ковтонюк Н. Ф., Костюк А. В., Одиноков С. Б. Метод сравнения смещенных изображений91
Александров В. К., Галушко Е. В., Ильин В. Н. Размерный контроль ограничивающих диафрагм по дифракции Френеля93

Абейнаяке X. Т., Комоцкин В. А. Измерение частотных характеристик отражения ПАВ от  периодической  структуры

97

Кислов В. В., Шаронов Г. В.  Флуктуации  фазы  импульсов  излучения  непрерывных лазеров с активной синхронизацией мод

99

Андреев В. М., Баев С. Г., Бессмельцев В. П., Павлюхина Л. А., Чуприкова Т. А. Исследование процессов лазерного термохимического формирования металлических проводников на диэлектрических подложках

102
Литвин А. И. Структура алгоритмов быстрого преобразования Уолша — Пэли106
Бедров Я. А. Об определении наиболее типичной кривой паттерна109
Рефераты статей113