iae logo
 

Федеральное государственное бюджетное учреждение науки

Институт автоматики и электрометрии

Сибирского отделения Российской академии наук
 
 
  • Русский (RU)
  • English (UK)
  • Главная
  • Страницы лабораторий
  • Архив подразделений

ИАиЭ СО РАН

  • Общие сведения
  • Новости
  • Структура
  • Контакты и реквизиты
  • Сотрудники (справочник)
  • История
  • Профсоюз
  • СМИ об Институте
  • Противодействие коррупции

Научная деятельность

  • Исследования, рейтинги, проекты
  • Важнейшие результаты
  • Публикации
  • Семинары, конференции
  • Международные связи
  • Годовые отчеты
  • Результативность
  • Конкурсы, гранты, стипендии
  • Национальные проекты России

Инновационная деятельность

  • Прикладные разработки
  • Патентное право
  • Выставки
  • Отдел индустриальных проектов
  • Инженерно-технологический центр

Страницы подразделений

  • Страницы лабораторий
    • Молодёжные лаборатории
    • Лаборатория 01
    • Тем. группа 01-1
    • Лаборатория 02
    • Лаборатория 03
    • Лаборатория 04
    • Лаборатория 05
    • Тем. группа 05-1
    • Тем. группа 05-2
    • Лаборатория 06
    • Лаборатория 07
    • Тем. группа 07-1
    • Лаборатория 09
    • Лаборатория 10
    • Тем. группа 10-1
    • Лаборатория 11
    • Лаборатория 12
    • Лаборатория 13
    • Лаборатория 14
    • Лаборатория 15
    • Лаборатория 16
    • Лаборатория 17
    • Тем. группа 17-1
    • Тем. группа 17-2
    • Лаборатория 18
    • Лаборатория 19
    • Тем. группа 19-1
    • Лаборатория 20
    • Архив подразделений
  • Патентно-информационный отдел
  • ЦКП «Спектроскопия и оптика»
  • Отдел размещения заказов
  • Опытное производство

Образование в Институте

  • Диссертационный совет
  • Кафедры
  • Аспирантура

Журнал "Автометрия"

  • Общая информация
  • Редакционная коллегия
  • Правила подготовки рукописей
  • Лицензионный договор
  • Архив статей
  • Контакты журнала

События и фото

  • Юбилей-65
  • События
  • Персоналии

Для сотрудников

  • Редактирование сайта
  • Форум
  • Профком
  • Библиотека
  • ЖСК
  • Документы и приказы
  • Бланки
  • Система менеджмента качества
  • Объявления
  • Безопасность

Архив подразделений

Тем. группа мощных ионных лазеров (Яковин ДВ) (01-1)
Тем. группа лазерных информационно-измерительных систем (Щербаченко АМ) (05-2)
Лаборатория тонкопленочных сегнетоэлектрических структур (Косцов ЭГ, Соколов АА) (08)
Тем. группа нелинейной оптики (11-3) 
Тем. группа магистрально-модульных систем (Сердюков ОВ) (13-1)
Тем. группа оптико-электронных специализированных процессоров (Нежевенко ЕС) (15-1)
Тем. группа имитационно-моделирующих стендов (Гибин ИС) (15-2)
Тем. группа автоматизации измерительных технологий (Сковородин ИН) (15-3)
Тем. группа терагерцовой фотоники (Николаев НА) (15-4)
Тем. группа языковых средств проектирования
информационных систем управления (Зюбин ВЕ)
(16-1)
Тем. группа встроенных систем управления и обработки сигналов (Литвинцев ВИ) (16-2)

МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РФ РОССИЙСКАЯ АКАДЕМИЯ НАУК ОТДЕЛЕНИЕ ФИЗИЧЕСКИХ НАУК РАН ОТДЕЛЕНИЕ НАНОТЕХНОЛОГИЙ И ИНФОРМАЦИОННЫХ ТЕХНОЛОГИЙ РАН СИБИРСКОЕ ОТДЕЛЕНИЕ РОССИЙСКОЙ АКАДЕМИИ НАУК