Страницы подразделений

Институт в фотографиях

Публикации тем. группы 05-1

Публикации 2012 года

СТАТЬИ

Научные журналы

  1. Лабусов В.А., Путьмаков А.Н., Зарубин И.А., Гаранин В.Г. Новые многоканальные оптические спектрометры на основе анализаторов МАЭС // Заводская лаборатория. Диагностика материалов, 2012, Т. 78, № 1-II. С. 7-13.
  2. Селюнин Д.О., Бабин С.A., Лабусов В.А. Высокоскоростные анализаторы МАЭС с интерфейсом Gigabit Ethernet  // Заводская лаборатория. Диагностика материалов, 2012, Т. 78, № 1-II. С. 39-43.
  3. Пелипасов О.В., Лабусов В.А., Семёнов З.В. Идентификация молекулярных полос в атомно-эмиссионных спектрах, зарегистрированных анализаторами МАЭС // Заводская лаборатория. Диагностика материалов, 2012, Т. 78, № 1-II. С. 44-49.
  4. Смолин Д.В., Лабусов В.А., Гаранин В.Г., Кузнецов С.Н. Двухимпульсный лазерный источник возбуждения атомно-эмиссионных спектров // Заводская лаборатория. Диагностика материалов, 2012, Т. 78, № 1-II. С. 58-61.
  5. Шаталов И.Г., Лабусов В.А., Неклюдов О.А., Панкратов С.В. Автоматическое профилирование многоканальных спектрометров с анализаторами МАЭС // Заводская лаборатория. Диагностика материалов, 2012, Т. 78, № 1-II. С. 74-77.
  6. Зарубин И.А., Гаранин В.Г., Лабусов В.А. Применение малогабаритного спектрометра «Колибри-2» в атомно-эмиссионном анализе // Заводская лаборатория. Диагностика материалов, 2012, Т. 78, № 1-II. С. 86-89.
  7. Ващенко П.В., Лабусов В.А., Лихачев А.В. Восстановление распределения интенсивности излучения на поверхности многоэлементного твердотельного детектора // Заводская лаборатория. Диагностика материалов, 2012, Т. 78, № 1-II. С. 94-95.
  8. Шаяпов В.Р., Рогов А.Б., Румянцев Ю.М., Аюпов Б.М., Лабусов В.А., Зарубин И.А. Изучение химического состава плазмы в процессах получения тонких плёнок и покрытий с применением спектрометра «Колибри-2» // Заводская лаборатория. Диагностика материалов, 2012, Т. 78, № 1-II. С. 96-98.
  9. Гаранин В.Г., Зарубин И.А., Лабусов В.А., Селюнин Д.О., Саушкин М.В. Определение состава металлов и сплавов на вакуумном атомно-эмиссионном спектрометре «Гранд-Эксперт» // Заводская лаборатория. Диагностика материалов, 2012, Т. 78, № 1-II. С. 115-123.
  10. Заякина С.Б., Аношин Г.Н., Путьмаков А.Н., Веряскин А.Ф. Возможности и перспективы кинетического спектрального метода для изучения распределения благородных металлов в горных породах и рудах // Заводская лаборатория. Диагностика материалов, 2012, Т. 78, № 1-II. С. 50-53.
  11. Боровиков В.М., Петроченко Д.В., Путьмаков А.Н., Селюнин Д.О. Универсальный генератор «Везувий-3» // Заводская лаборатория. Диагностика материалов, 2012, Т. 78, № 1-II. С. 62-66.
  12. Путьмаков А.Н., Печуркин В.И., Попков В.А., Селюнин Д.О. Универсальный спектроаналитический штатив «Кристалл» // Заводская лаборатория. Диагностика материалов, 2012, Т. 78, № 1-II. С. 66-68.
  13. Гаранин В.Г., Неклюдов О.А., Петроченко Д.В., Семёнов З.В., Шаталов И.Г., Панкратов С.В. Программное обеспечение атомно-эмиссионного спектрального анализа (программа «Атом») // Заводская лаборатория. Диагностика материалов, 2012, Т. 78, № 1-II. С. 69-74.
  14. Семёнов З.В., Неклюдов О.А., Строков И.И., Гаранин В.Г. Автоматизация атомно-эмиссионного спектрального анализа с использованием видеоконтроля // Заводская лаборатория. Диагностика материалов, 2012, Т. 78, № 1-II. С. 78-81.
  15. Кириянко В.Г., Радченко Е.О., Мальцев А.В., Путьмаков А.Н. Опыт анализа аффинированного и лигатурного золота на Новосибирском аффинажном заводе // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2012, Т. 78, № 1-II. С. 111-114.
  16. Лабусов В.А., Гаранин В.Г., Шелпакова И.Р. Многоканальные анализаторы атомно-эмиссионных спектров. Современное состояние и аналитические возможности // Журнал аналитической химии, 2012, Т. 67, № 7. С. 697-707.

МАТЕРИАЛЫ КОНФЕРЕНЦИЙ

Труды международных и российских конференций

  1. Ващенко П.В. Восстановление формы одиночной спектральной линии в дуговых атомно-эмиссионных спектрах // Материалы 50-й юбилейной международной  научной  студенческой конференции «Студент и научно-технический прогресс», Новосибирск, 2012. С. 5.
  2. Панкратов С.В. Корреляционный анализ атомно-эмиссионных спектров // Материалы 50-й юбилейной международной  научной  студенческой конференции «Студент и научно-технический прогресс», Новосибирск, 2012. С. 16.
  3. Пелипасов О.В. Использование молекулярных полос в дуговом атомно-эмиссионном спектре // Материалы 50-й юбилейной международной  научной  студенческой конференции «Студент и научно-технический прогресс», Новосибирск, 2012. С. 17-18.
  4. Бокк Д.Н. Определение неметаллических включений в сталях методом оптической эмиссионной спектроскопии с искровым возбуждением // Материалы 50-й юбилейной международной научной студенческой конференции «Студент и научно-технический прогресс», Новосибирск, 2012. С. 68-69.
  5. Курилко С.С. Комплекс для экспрессного многоэлементного атомно-абсорбционного спектрального анализа //  материалы МНСК «Студент и научно-технический прогресс», секция «Физика», подсекция «Физические методы в естественных науках», Новосибирск 2012. С. 52.
  6. Курилко С.С. Комплекс для экспрессного многоэлементного атомно-абсорбционного спектрального анализа // Материалы молодежной конкурс-конференции «Фотоника и оптические технологии», секция «Оптико-информационные технологии», Новосибирск, 2012. С. 19-20.
  7. Бокк Д. Н. Метод оптической эмиссионной спектроскопии с искровым возбуждением для анализа неметаллических включений в сталях // Дни науки НГТУ-2012: материалы научной студенческой конференции, Новосибирск. Изд-во НГТУ, 2012. С. 22.
  8. Лабусов В.А., Путьмаков А.Н., Зарубин И.А., Гаранин В.Г. Новые оптические спектрометры на основе анализаторов МАЭС // Материалы XII Международного симпозиума «Применение анализаторов МАЭС в промышленности», Новосибирск, 2012. С. 8.
  9. Неклюдов О.А., Гаранин В.Г., Петроченко Д.В., Семёнов З.В., Панкратов С.В. Атом 3.3. Важные «мелочи» // Материалы XII Международного симпозиума «Применение анализаторов МАЭС в промышленности», Новосибирск, 2012. С. 42.
  10. Панкратов С.В., Лабусов В.А., Неклюдов О.А. Метод корреляции в решении задачи качественного анализа вещества // Материалы XII Международного симпозиума «Применение анализаторов МАЭС в промышленности», Новосибирск, 2012. С. 43-55.
  11. Сазонов Б.А., Лабусов В.А., Неклюдов О.А., Семёнов З.В. Визуальный анализ последовательностей атомно-эмиссионных спектров для контроля качества работы алгоритмов их обработки // Материалы XII Международного симпозиума «Применение анализаторов МАЭС в промышленности», Новосибирск, 2012. С. 56-60.
  12. Ващенко П.В., Лабусов В.A. Восстановление формы одиночной спектральной линии в дуговых атомно-эмиссионных спектрах // Материалы XII Международного симпозиума «Применение анализаторов МАЭС в промышленности», Новосибирск, 2012. С. 61.
  13. Пелипасов О.В., Лабусов В.А., Семёнов З.В. Идентификация молекулярных полос в атомно-эмиссионных спектрах, зарегистрированных анализаторами МАЭС, и их использование // Материалы XII Международного симпозиума «Применение анализаторов МАЭС в промышленности», Новосибирск, 2012. С. 62-71.
  14. Гаранин В.Г., Борисов А.В. Современное оборудование для спектрального анализа металлической меди // Материалы XII Международного симпозиума «Применение анализаторов МАЭС в промышленности», Новосибирск, 2012. С. 72-75.
  15. Кириянко В.Г., Радченко Е.О., Мальцев А.В., Путьмаков А.Н. Расширение возможностей спектрального оборудования для анализа благородных металлов на ОАО «НАЗ» // Материалы XII Международного симпозиума «Применение анализаторов МАЭС в промышленности», Новосибирск, 2012. С. 90-95.
  16. Зарубин И.А., Лабусов В.А., Бокк Д.Н. Оптимальная система освещения входной щели многоканальных спектрометров «Гранд» и «Экспресс» // Материалы XII Межд. симп. «Применение анализаторов МАЭС в промышленности», Новосибирск, 2012. С. 100-104.
  17. Путьмаков А.Н., Курилко С.С., Боровиков В.М., Лабусов В.А. Экспериментальный комплекс для многоэлементного атомно-абсорбционного спектрального анализа // Материалы XII Международного симпозиума «Применение анализаторов МАЭС в промышленности», Новосибирск, 2012. С. 105-111.
  18. Борисов А.В., Гаранин В.Г., Путьмаков А.Н., Речкин Г.В. Внедрение приборов компании «ВМК-Оптоэлектроника»  в лабораториях России и стран СНГ // Материалы XII Международного симпозиума «Применение анализаторов МАЭС в промышленности», Новосибирск, 2012. С. 112-116.
  19. Фоменко С.В., Пак А.С., Лабусов В.А. Обеспечение качества продукции компании «ВМК-Оптоэлектроника» // Материалы XII Международного симпозиума «Применение анализаторов МАЭС в промышленности», Новосибирск, 2012. С. 117-120.
  20. Лабусов В.А., Селюнин Д.О., Бабин С.A., Хотеева И.С. Перспективы развития систем регистрации атомно-эмиссионных спектров на основе многоэлементных твердотельных детекторов // Материалы Всероссийской конференции по аналитической спектроскопии с международным участием, Краснодар, 2012. С. 127.

Дайджесты, тезисы, материалы семинаров и форумов

  1. Zaksas N.P., Labusov V.A., Veryaskin A.F. «Analysis of different powdered samples by two-jet plasma atomic emission spectrometry» // Book of abstracts, 6-th Nordic Conference on Plasma Spectrochemistry, Loen, Norway, 2012. P. 26.