№ 3 1992 (МАЙ - ИЮНЬ)

СОДЕРЖАНИЕ НОМЕРА

Автор / Название статьи	номер страницы
ФИЗИЧЕСКИЕ И ТЕХНИЧЕСКИЕ АСПЕКТЫ МИКРО- И ОПТОЭЛЕКТРОНИКИ
Минкина В. Г., Попов В. П. Математическое моделирование процесса получения слоев кремния в хлоридном CVD-процессе при пониженном давлении	3
Левин М. Н., Кадменский А. Г., Кадменский С. Г., Татаринцев А. В., Литманович В. И. Двумерное моделирование короткоканальных МОП-транзисторов с учетом поверхностных состояний	7
Вик Й. Метод частиц для кинетических уравнений полупроводников	13
Навон Д. X. Эффекты горячих носителей в современных субмикронных полупроводниковых приборах	19
Джафари Раухани М., Гюи А. М., Лярусс М., Эстев Д. Обзор теорий формирования дефектов на границе	27
Батюхно Е. Г., Беспалов В. П., Кольдяев В. И. Моделирование тока утечки p-n-перехода в СБИС в двумерном приближении	31
Гинкин В. П. Метод неполной факторизации для решения трехмерных уравнений эллиптического типа	40
Андросенко А. А., Андросенко П. А., Розин С. Г., Ярошевич А. А. Возможности комплекса программ BRAND для моделирования методом Монте-Карло процесса переноса ионов	43
Люмаров П. П. Монотонные сплайны на адаптивных сетках трех переменных для электрических МОП-моделей	47
Люмаров П. П. Применение монотонных сплайнов при построении модели МОП-транзистора со встроенным каналом	56
Мишин А. И. Память с адресацией по содержанию и ее потенциальные возможности	63
КОМПЬЮТЕРНЫЕ СИСТЕМЫ АНАЛИЗА И СИНТЕЗА ИЗОБРАЖЕНИЙ
Дудник Е. Н., Клишин С. В. Повышение резкости изображений с помощью дискретных конволюционных операторов	71
Завьялкин Ф. М., Удод В. А. Максимальная разрешающая способность изображающих систем, достигаемая при апостериорной линейной фильтрации изображений	75
Трофимов О. Е. О численных алгоритмах трехмерной томографической реконструкции	81
Троицкая М. И., Харитонов А. Ю. О выборе оптимальной величины регуляризирующего параметра эмиссионной реконструктивной вычислительной томографии	87
Дубчак В. Н., Красиленко В. Г. Эффективное формирование управляющих операндов при вычислении моментных признаков методом пофрагментного интегрирования	92
ОПТИЧЕСКИЕ ИНФОРМАЦИОННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ И СИСТЕМЫ
Гуров И. П. Интерференционные измерения и контроль параметров геометрических элементов на основе критерия максимума функционала правдоподобия	99
Досколович Л. Л., Сойфер В. А., Шинкарев М. В. Метод стохастического синтеза бинарных дифракционных решеток	104
КРАТКИЕ СООБЩЕНИЯ
Котов В. М. Брэгговское поляризационное расщепление в оптически одноосных кристаллах	109
Фурман Я. А. Оценки параметров линейных преобразований зашумленных контуров изображений	112