Institute of Automation and Electrometry
СОДЕРЖАНИЕ НОМЕРА
МОДЕЛИРОВАНИЕ В НАУЧНЫХ ИССЛЕДОВАНИЯХ
Бакиров Н. К., Султанов А. X., Дыбленко С. В. Использование методов поиска разладки в задаче различения стохастических текстур
ПЕРСПЕКТИВНЫЕ ВЫЧИСЛИТЕЛЬНЫЕ СИСТЕМЫ
Хорошевский В. Г., Подаков М. Н. Поиск стохастически оптимального разбиения большемасштабных вычислительных систем на подсистемы
Монахов О. Г., Монахова Э. А. Исследование топологических свойств регулярных параметрически описываемых структур вычислительных систем
Щетинин В. Г. Распознавание образов на многослойных нейронных сетях
АВТОМАТИЗИРОВАННЫЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ СИСТЕМЫ
Гик Л. Д. Контроль параметров сейсмоприемников без нарушения их механической связи с исследуемым объектом
Глазков С. Ю., Глазкова Л. В., Семенова 3. И. Установка для определения коэффициента температуропроводности фторуглеродов
Крюков В. В., Шахгельдян К. И. Двухпроцессорная измерительно-вычислительная система для сбора и обработки данных
ФИЗИЧЕСКИЕ И ТЕХНИЧЕСКИЕ АСПЕКТЫ МИКРО- И ОПТОЭЛЕКТРОНИКИ