Institute of Automation and Electrometry
СОДЕРЖАНИЕ НОМЕРА
ФИЗИЧЕСКИЕ И ТЕХНИЧЕСКИЕ АСПЕКТЫ МИКРО- И ОПТОЭЛЕКТРОНИКИ
Мелентьев В. А., Черепов Е. И., Чистохин И. Б. Живучесть и отказоустойчивость фотоприемных систем
Двуреченский А. В., Ковчавцев А. П., Курышев Г. Л., Рязанцев И. А. Блокирующий контакт р++-р+-р в кремниевых ИК-фотоприемниках с проводимостью р-типа
Атучин В. В., Зилинг К. К., Григорьева Т. И., Калабин И. Е. Метастабильные фазы и изменения ∆n2 в слоях
HxLi1-xTaO3 при малом содержании водорода
Горчаков А. В., Белостоцкий А. Л., Сапожников В. К., Русов В. А., Мешалкин А. Б., Каплун А. Б. Технология высококонтрастных электрооптических модуляторов на основе кристаллов КТiOР04
Неизвестный И. Г., Супрун С. П., Талочкин А. Б., Шумский В. Н., Кожемяко И. Г. Ансамбли квантовых точек Ge в ненапряженной гетеросистеме GaAs/ZnSe
Попов В. П., Киланов Д. В., Антонова И. В. Формирование куполов на поверхности кремния при последовательной имплантации ионов гелия и водорода