Том 40 № 2 2004 (МАРТ - АПРЕЛЬ)

СОДЕРЖАНИЕ НОМЕРА

Автор / Название статьи	номер страницы
От составителей выпуска	3
НАНОТЕХНОЛОГИИ, НАНОМЕТРИЯ
Сидоров Ю. Г., Торопов А. И., Шашкин В. В., Овсюк В. Н., Гайслер В. А., Гутаковский А. К., Латышев А. В., Ткаченко В. А., Квон 3. Д., Двуреченский А. В., Пчеляков О. П., Принц В. Я., Попов В. П., Асеев А. Л. Развитие нанотехнологий и их применение для разработки устройств полупроводниковой электроники	4
Календин В. В. Нанометрия: проблемы и решения	20
Быков В. А., Рябоконь В. Н. Инструменты нанотехнологии: состояние и перспективы развития	37
Ведерников В. М., Верхогляд А. Г., Гуренко В. М., Касторский Л. Б., Кирьянов А. В., Кирьянов В. П., Кокарев С. А., Саметов А. Р. Лазерный генератор изображений для синтеза микрорельефа дифракционных оптических элементов на трехмерных осесимметричных поверхностях	46
Кирьянов В. П., Никитин В. Г. К вопросу о механизме записи изображений в пленках хрома	59
ИНФОРМАЦИОННО-ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ СИСТЕМЫ
Журне Б. Обзор принципов построения лазерных времяпролетных дальномеров	69
Белоглазова В. А., Битюцкий О. И., Гущина А. А., Карлов Ю. К., Кривенков Б. Е., Лавренюк П. И., Ладыгин В. И., Несин В. И., Пастушенко А. И., Петров А. Н., Пименов Ю. В., Рожков В. В., Чапаев И. Г., Чернышев В. М., Чугуй Ю. В., Юношев В. П., Юношев С. П. Оптико-электронное устройство бесконтактного контроля геометрических параметров ТВЭЛ	82
Родригес-Вера Р., Мартинес А., Райяс Дж. А., Пуга X. Дж. Исследование шероховатости поверхности объекта методом интерференционных муаровых полос	93
Байбаков А. Н., Ладыгин В. И., Пастушенко А. И., Плотников С. В., Тукубаев Н. Т., Юношев С. П. Лазерные триангуляционные датчики положения в промышленных системах контроля и диагностики	105
Малов С. Н. Определение смещения объекта по фурье-интерферограмме	114
Кудряшов Т. В., Гречихин В. А. Исследование погрешностей измерения скорости частиц методом вейвлет-анализа доплеровского сигнала	121