Institute of Automation and Electrometry
СОДЕРЖАНИЕ НОМЕРА
НАНОТЕХНОЛОГИИ В ОПТИКЕ И ЭЛЕКТРОНИКЕ
Козлов А. С., Петров А. К., Винокуров Н. А. Исследование нанообъектов различной природы методом субмиллиметровой лазерной абляции
Коноваленко И. В., Марущак П. О. Анализ погрешностей алгоритма идентификации трещин термоусталости
Салов Г. И. Новый статистический критерий для задач с двумя и тремя выборками, более мощный, чем критерии Вилкоксона и Уитни