№ 4 2000 (ИЮЛЬ - АВГУСТ)

СОДЕРЖАНИЕ НОМЕРА

Автор / Название статьи	номер страницы
МЕТОДЫ ОБРАБОТКИ СИГНАЛОВ И ИЗОБРАЖЕНИЙ
Ефимов В. М., Торгов А. В. Определение параметров фильтра с конечно-импульсной характеристикой при ограничениях на значения его частотной характеристики	3
Трифонов А. П., Прибытков Ю. Н. Обнаружение случайных изображений пространственно протяженных объектов, затеняющих фон	14
Кулешов Е. Л. Декомпозиция стационарных случайных процессов на гармонические компоненты как основа спектрального анализа высокого разрешения	26
Мелентьев В. А. Скобочная форма описания графов и ее использование в структурных исследованиях живучих вычислительных систем	36
Моисеев С. Н. Различение гипотез о нормальном или Коши-распределении выборки	52
Аульченко С. М., Латыпов А. Ф., Никуличев Ю. В. Построение кривых и поверхностей с помощью параметрических полиномов	60
ОПТИЧЕСКИЕ ИНФОРМАЦИОННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ И СИСТЕМЫ
Ковалев А. М. О способе отображения объектов в сферической перспективе	76
Безуглов Д. А. Исследование влияния шумов датчика Гартмана на точность адаптивной компенсации нестационарных искажений волнового фронта	82
Иванов А. П., Сапегин Л. Н., Щигунова Е. А. Контроль качества учебного материала нейросетей и систем биометрической идентификации личности	92
Маточкин А. Е., Черкашин В. В. Дифракционное пробное-стекло для контроля цилиндрической поверхности	100
КРАТКИЕ СООБЩЕНИЯ
Бартош В. С, Лаврентьев М. М. Динамическая модель автомобиля в реальном времени	108
Кондратьев А. И., Криницын Ю. М, Гусаков С. А. Лазерные интерферометры для измерения ультразвуковых колебаний	116
Михайлов Н. Н., Сидоров Ю. Г., Дворецкий С. А., Якушев М. В., Швец В. А. Изучение процессов адсорбции и десорбции теллура на поверхности CdTe методом эллипсометрии	124
НАУЧНЫЕ ДИСКУССИИ
Алексеев В. Г. Непараметрический спектральный анализ стационарных случайных процессов	131