МОДЕЛИРОВАНИЕ ФИЗИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК МИКРОЭЛЕКТРОННЫХ ПРИБОРОВ

A. И. Адамсоне, Б. С. Польский. Об одной модификации метода Гуммеля для решения стационарных задач моделирования компонент интегральных схем

Г. В. Гадияк, С. П. Синица, Н. Л. Шварц. Расчет стационарных характеристик короткоканальных МДП-транзисторов с учетом  эффекта лавинного умножения

B. И. Кольдяев, О. Ю. Пензин, О. Н. Шахова. Моделирование методом неподвижного заряда основных характеристик элементов СБИС на основе МДП-транзисторов

И. А. Блатов, Е. П. Соболевский, А. А. Тертерян, В. Л. Хацкевич. О некоторых подходах при численном моделировании МДП-структур

ЧИСЛЕННОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ ПРОЦЕССОВ В ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРАХ

C. Г. Сазонов, Ю. Н. Юрьев. Проводимость собственных оксидов на поверхности соединений А^ш B^v

В. И. Кольдяев, В. А. Мороз, С. А. Назаров. Двумерное моделирование легирования и окисления кремния

Л. Н. Александров, Р. В. Бочкова, А. Н. Коган, Н. П. Тихонова. Моделирование на ЭВМ особенностей роста эпитаксиальных пленок кремния в хлоридной системе

Л. Н. Александров, В. Ю. Баландин, А. В. Двуреченский, О. А. Кулясова. Плавление структур кремний на изоляторе наносекундным лазерным нагревом

М. И. Василевский, Г. М. Големшток, В. А. Пантелеев, С. М. Руденко. Численное моделирование  двухпотоковой  диффузии  элементов V группы в  кремний

МЕТОДЫ И АЛГОРИТМЫ ОБРАБОТКИ ИЗОБРАЖЕНИЙ

А. В. Губанов, В. М. Ефимов, В. С. Киричук, А. И. Пустовских, А. Л. Резник. Методы оценивания взаимного смещения фрагментов  цифровых изображений

В. С. Киричук, А. И. Пустовских. Применение статистических методов в задаче оценивания стационарной части фона по серии изображений

О. И. Битюцкий, Г. И. Перетягин. Поиск и локализация реперных фрагментов при совмещении повторных снимков

КРАТКИЕ СООБЩЕНИЯ

Ю. Г. Золотарев, М. Г. Зотов. Идентификация дифференциального уравнения с переменными коэффициентами по его импульсной переходной функции

Ю. Г. Золотарев, М. Г. Зотов. Обобщение метода Шинброта на решение многомерных интегральных уравнений Бутона

A. И. Седельников. Восстановление структуры осесимметричного объекта по проекции на  основе преобразования Ганкеля

3. Д. Грицкив, В. И. Шклярский. Предельное   быстродействие   отклонения   луча в сканирующих устройствах на прецизионных ЭЛТ

B. П. Сизов. Калибровка многомерных датчиков технических систем при помощи ортонормированных полиномов